CPX-VF探针台用于基于CNT的RF辐射测量仪开发研究
我们不时重点介绍我们的低温探测站如何用于有趣的研究。我们*新的应用焦点是由阿克伦大学领导的工作,并在上个月的IEEE微波理论和技术汇刊上发表。美国陆军和Nano-C公司的研究人员,美国马萨诸塞州韦斯特伍德,纳米结构碳材料及其应用的开发者,UA ZEN实验室的Michael Gasper和Ryan Toonen博士开发了一种新型的RF辐射热测量仪,使用CNT薄膜作为热敏电阻元件。
在阿克伦大学的UA ZEN Lab CPX-VF ApplicationTest设置中,展示了一个RF信号发生器,锁定放大器,检测电阻,偏置三通,以及包含被测器件的Lake Shore CPX-VF探针台(照片由ZEN-实验室)。
传统上,使用昂贵的电子束平版印刷术已经用单个CNT制造高度敏感的CNT辐射热测量计。在这项突出的工作中,研究团队利用沉积在蓝宝石衬底上的晶圆级CNT薄膜和传统的微细加工技术来节约和扩大CNT热敏电阻的制造。这个想法是,使用这种技术创建的辐射热测量计可以为遥感应用带来更低成本,更简单的RF功率感测解决方案。
公司的探测站在确定设备冷却到低温时如何改变辐射热测量计的灵敏度起了一定的作用。具体而言,在配备有67GHz GSG微波探测器臂的CPX-VF探针台中进行实验。在80K时,研究团队观察到与室温测辐射热计相比灵敏度提高了六倍(2.3mV / mW)。
另外值得注意的是:ZEN实验室的研究人员目前正在使用他们的CPX-VF进行类似的实验,*近集中在使用市场上可买到的CVD生长的石墨烯开发微波功率检测器。 7月份在IEEE国际纳米技术会议上提交的这项工作应该可以在下个月通过IEEEXplore®获得。
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